產(chǎn)品別名 |
芯片老化功能測(cè)試座,芯片開(kāi)短路測(cè)試方案,邏輯芯片測(cè)試座,模擬芯片測(cè)試座 |
面向地區(qū) |
深圳市凱力迪科技有限公司 2年
———— 認(rèn)證資質(zhì) ————